X熒光光譜儀由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線，激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光，探測器對X熒光進行檢測，其分析速度快，精密度高。關(guān)于X熒光光譜儀的常見分析對象你了解嗎？

 

X熒光光譜分析分析范圍很廣，可從Be-U,而且對分析試樣的物理狀態(tài)不作要求，像固體、粉末、晶體、非晶體都可作為試驗對象。也不受元素的化學狀態(tài)的影響。重要的是它屬于物理過程中的非破損性分析，是一種試樣不發(fā)生化學變化的無損分析方法。它還可以對均勻試樣進行表面的分析。

 

X熒光光譜分析被應(yīng)用于很多領(lǐng)域，比如地質(zhì)、冶金、礦山、電子機械、石油、化工、航空、航天材料、農(nóng)業(yè)、生態(tài)環(huán)境、建筑材料、商檢等領(lǐng)域的材料化學成分分析，它的直接分析對象有以下幾種:

1、固體

A.塊狀樣品(規(guī)則不規(guī)則)，比如：鋼鐵，有色行業(yè)純金屬或多元合金、金飾品等；

B.線狀樣品,包括線材,可以直接測量；

C.鉆削,不規(guī)則樣品可以直接測；

2、粉末

礦物陶瓷水泥(生料、熟料、原材料成品等；泥土、粉末、冶金、鐵合金或少量稀松粉末,可以直接測量，亦可以壓片測量或制成玻璃熔珠。

3、稀土