現(xiàn)在大多數(shù)的采礦企業(yè)是將礦樣送至遠(yuǎn)離現(xiàn)場的實(shí)驗(yàn)室檢測，不但費(fèi)時(shí)費(fèi)力、成本昂貴，而且對于偏遠(yuǎn)的地方，這樣做也是不切實(shí)際的。那擁有一款體積小、檢測速度快、分析數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠的X熒光光譜分析儀必將成為礦產(chǎn)企業(yè)必備儀器。X熒光光譜分析儀因其體積小、重量輕、檢測精度高，性能可靠，又可廣泛應(yīng)用于勘探開采過程中各階段的礦樣成分分析，也越來越被更多的礦產(chǎn)企業(yè)所接受。


X熒光光譜儀（XRF）由激發(fā)源和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線，激發(fā)被測樣品，產(chǎn)生X熒光，探測器對X熒光進(jìn)行檢測。

X熒光光譜分析儀還可以對礦場描繪以及品位控制。通過實(shí)時(shí)就地分析多個(gè)樣本，實(shí)現(xiàn)對開采計(jì)劃進(jìn)行指導(dǎo)，有效地管理挖掘、爆破工作，在現(xiàn)場確定土壤、沉積物或者鉆孔樣本的地質(zhì)成分，以有效控制勘探成本。它也能夠?qū)ΦV石、礦渣、土壤、沉積物以及其他類似的樣品進(jìn)行快速的金屬元素含量分析。無論是進(jìn)行原地檢測還是非原地檢測，功能強(qiáng)大的計(jì)算軟件能夠自動(dòng)消除由于不同樣品的材質(zhì)差異所造成的偏差，從而使操作者僅需將儀器探測頭直接接近樣品便可進(jìn)行檢測，而無需其他任何數(shù)據(jù)輸入或者進(jìn)行再次校準(zhǔn)。根據(jù)對檢測精度的不同要求，測試時(shí)間僅需數(shù)秒到數(shù)分鐘。